Новости Академичecкого университета

Санкт-Петербургский Академический университет – научно образовательный центр нанотехнологий РАН

Программа выступлений
Saturday, September 15
Registration (School-Conference) 13:00 – 15:00

Opening remarks 15:00 – 15:15

Chair: Bushuev V.A., Goray L.I. 15:15 – 16:15
Tutorial Lecture 1
Lec-1 High Resolution X-ray Scattering: A General Probe for Very Different Length Scales (invited)
Brian Keith Tanner
Durham University, United Kingdom

Coffee break 16:15 – 16:30

Tutorial Lecture 2 16:30 – 17:30
Lec-2 Reflectivity and Off-Specular Grazing Incidence Scattering from Surfaces: Theory and Applications (invited)
Sunil Kumar Sinha
University of California, San Diego, USA

Coffee break 17:30 – 17:45

Tutorial Lecture 3 17:45 – 18:45
Lec-3 High-resolution x-ray diffractometry (invited)
Vaclav Holy
Charles University in Prague, Czech Republic

Boat trip & Refreshment 19:00 – 23:00

Sunday, September 16
Registration 08:30 – 18:00

Chair: Zolotoyabko E.., Voloshin A. 09:30 – 10:30
Tutorial Lecture 4
Lec-4 Phase contrast imaging with synchrotron radiation (invited)
Jose Baruchel
European Synchrotron Radiation Facility, France

Coffee break 10:30 – 10:45

Tutorial Lecture 5 10:45 – 11:45
Lec-5 X-ray diffraction topography – an evolving tool (invited)
Juergen Walter Haertwig
European Synchrotron Radiation Facility, France
Tutorial Lecture 6 11:45 – 12:45
Lec-6 Hard X-ray optics for Synchrotron Radiation Beamlines (invited)
Raymond Barrett
European Synchrotron Radiation Facility, France

Lunch (School-Conference) 12:45 – 14:00

Opening ceremony 14:00 – 14:45
Chair: Kyutt R.N, Kovalchuk M.V.

14:15 – 14:45
X-ray diffraction – from the Past to the Future
Kovalchuk M.V.
Kurchatov Institute, Shubnikov Institute of Crystallography

Chair: Shulpina I.L., Haertwig J.W. 14:45 – 16:00
Session 1: X-ray topography

14:45-15:00
Three-dimensional rocking curve imaging (3D-RCI) to measure the effective distortion in the neighbourhood of a defect within a crystal: the example of ice
O1-01 Philip A., Meyssonnier J., Kluender R.T. and Baruchel J.
LGGE, UJF-CNRS UMR 5183, St. Martin d’Hères, France; European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, France

15:00-15:15
X-ray Diffraction Imaging for Prediction of the Propagation Probability of Individual Cracks in Brittle Single Crystal Materials
O1-02 Tanner B.K., Danilewsky A.N., Wittge J., Garagorri J., Elizalde M.R., Allen D., McNally P., Fossati M.C. and Jacques D.
Dept. of Physics, Durham University, UK; Kristallographie, Institut für Geowissenschaften, Universität Freiburg, Germany; CEIT and Tecnun (University of Navarra) San Sebastian, Spain; School of Electronic Engineering, Dublin City University, Ireland; Jordan Valley Semiconductors Ltd, Durham, UK

15:15-15:30
Cleavage, Microcrack Formation and Fracture in Silicon: In-situ X-ray Diffraction Imaging at High Temperature
O1-03 Danilewsky A.N., Wittge J., Ehlers Ch., Jauss T., Kiefl K., Croll A., Allen D. McNally P., Garagorri J., Elizalde M.R., Fossati M.C. and Tanner B.K.
Kristallographie, Institut für Geowissenschaften, Universität Freiburg, Germany; School of Electronic Engineering, Dublin City University, Ireland; CEIT and Tecnun (University of Navarra) San Sebastian, Spain; Dept. of Physics, Durham University, UK
Diffraction laminography applied to 3-dimensional imaging of dislocation networks in silicon wafers
Haenschke, D., Helfen, L., Altapova, V., Moosmann, J., Hamann, E., Wittge, J., Danilewsky, A.N., Baumbach, T.
Karlsruhe Institute of Technology, Germany; Institute for Synchrotron Radiation ANKA, Germany; University Freiburg, Germany

Coffee break 16:00 – 16:15

Chair: Podurets K.M. 16:15 – 17:00
Session 2: Fast tomography

16:15-16:30
O2-01 X-ray microtomography in the study of organic and inorganic materials
Asadchikov V.E. ,Yakimchuk I.V., Buzmkov A.V., Zolotov D.A.
Shubnikov Institute of Crystallography RAS, Moscow, Russia; Lomonosov Moscow State University, Moscow, Russia

16:30-16:45
O2-02 Development of microtomographic in vivo imaging to study lung dynamics at the micrometer scale
Lovric G., Mokso R., Schittny J.C., Roth-Kleiner M., Stampanoni M.
Swiss Light Source, Paul Scherrer Institute, Switzerland; Institute for Biomedical Engineering, ETH Zurich, Switzerland; Institute of Anatomy, University of Bern, Switzerland; Centre Hospitalier Universitaire Vaudois, University of Lausanne, Switzerland

16:45-17:00
O2-03 Effective Regularized Algebraic Reconstruction Technique for Computed Tomography
Prun V.E., Nikolaev D.P., Chukalina M.V., Buzmakov A.V., Asadchikov V.E.
Moscow Institute of Physics and Technology, Russia; Institute for Information Transmission Problems (Kharkevich Institute) RAS, Moscow, Russia; Institute of Microelectronics Technology and High Purity Materials RAS, Chernogolovka, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography RAS, Moscow, Russia

15 июня 2012 Академический университет принимал рабочую встречу участников инициативы International Research Staff Exchange Scheme (IRSES). Инициатива реализуется в рамках программы Агенства по управлению научными исследованиями Еврокомиссии - Marie Curie Actions. Программа призвана повышать уровень научной мобильности через распределение грантов на стажировки сотрудников научных организаций.

Наш университет посетили еврокомиссары Оливье Данон (Olivier Danon, на фото слева) и Франк Маркс (Frank Marx).

Сотрудники Академического университета - Г. Э. Цырлин, В. Г. Дубровский и М. А. Калитиевский - представили научные проекты, над которыми ведется работа с коллегами из Великобритании, Испании, Германии и других стран. Ученые рассказали, что благодаря обмену опытом и использованию технической базы принимающих университетов, им удалось сделать ряд перспективных открытий в области физики наноструктур.
Представители Еврокомиссии высоко оценили результаты работы над проектами и поблагодарили Академический университет за организацию мероприятия.

Участники рабочей встречи

22 мая 2012 года Президент РФ Владимир Путин принял участие в ежегодном общем собрании Российской академии наук, на котором подведены итоги деятельности Академии в 2011 году и изложил своё видение перспектив развития отечественной науки с учётом задач, стоящих перед обществом и государством. Президент также затронул вопросы финансирования научной деятельности, укрепления материально-технической базы академии и социального положения учёных.

"Нам следует в полной мере задействовать мощный образовательный, наставнический потенциал российских учёных, увеличить количество базовых кафедр, развивать систему научно-образовательных центров, работающих в институтах Академии наук. И я очень прошу обратить внимание на это направление, считаю его важным. Тем более что уже есть успешный опыт партнёрства науки и образования. В качестве примеров приведу Московский государственный университет, Академический университет в Санкт-Петербурге, Математический институт имени Стеклова"

Ссылка на источник